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SN74ABT8952DWR| IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
SN74ABT8952DWR
描述 : IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
品牌 : Texas Instruments
PDF : PDF
庫存: AVAIL
在線報價一
現(xiàn)貨極具優(yōu)勢，無起訂量限制，支持BOM表整單報價！
屬性
| Logic Type | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
|---|---|
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Package / Case | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Supplier Device Package | 28-SOIC |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
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